臺式分光光度計測定時，吸光度異常升高、降低或曲線漂移，往往并非目標物濃度變化，而是試樣干擾疊加所致。干擾可分為三類：一是光譜與物理干擾，包括濁度散射、顏色背景、共存物在測定波長處吸收、比色皿掛水/劃痕、氣泡、指紋和光程不一致；二是化學干擾，如顯色劑用量不足、pH偏離、氧化還原狀態改變、掩蔽劑競爭、配合物解離或副反應、溫度與反應時間不一致；三是基體效應，高鹽、高有機質或膠體改變折射率、活度與傳質，使同樣濃度表現出不同響應。判斷順序應先于校正：做試劑空白、樣品空白和基體匹配空白，比較加標前后吸光度與標準曲線斜率；用稀釋試驗觀察響應是否線性回退，用標準加入法核查基體是否抑制或增強顯色；必要時離心、過濾或靜置去濁，但須驗證目標物不被吸附損失，回收率宜落在可接受區間。

　　定位后按來源處理。濁度與背景色可改用參比扣除、雙波長或導數法降低寬帶影響；但雜散光強、帶寬過寬會壓縮線性上限，應控制濃度使吸光度多處于約0.2–0.8，并以高檔噪聲與低濃度漂移共同確認檢出能力。化學干擾靠緩沖體系固定pH、足量顯色劑與穩定劑、統一反應時間和溫度，掩蔽劑只掩蔽干擾離子而不沉淀目標物；強氧化還原樣品應先消解或調態，但消解不得引入待測組分或背景酸度跳變。操作層面，比色皿須同材質同光程、配對校正、外壁潔凈無水漬，裝液至同一高度并避免氣泡；測定前將試樣、試劑與參比同溫平衡，蒸發顯著的標準系列應現配現測。儀器方面定期核查波長準確度、帶寬、基線平直度和雜散光，流動池/自動進樣更要排除交叉污染。

　　最終，任何“扣除”都要用加標回收、平行樣、空白波動和不確定度證明有效；無法可靠分離光譜貢獻時，應改換顯色體系、波長、分離富集步驟或改用更高選擇性方法，而不是依賴數學硬扣。干擾測定的本質，是把“看得見的吸光度”還原成“可信的目標物濃度”。